關(guān)于林上品牌紫外能量計(jì)在高溫下使用時(shí)間的說明
林上科技公司的紫外能量計(jì)，在紫外固化的行業(yè)應(yīng)用非常廣泛，經(jīng)常有各行各業(yè)的客戶問到儀器的使用溫度問題，例如“你們的儀器在某某溫度下能使用多長時(shí)間？”，因?yàn)橛懈鞣N不同行業(yè)，環(huán)境溫度和測(cè)試的溫度都不相同，我們公司沒有辦法知道儀器確切的使用時(shí)間。下圖為六款林上紫外能量計(jì)：
林上紫外能量計(jì)
電子儀表的工作溫度一般不能超過85度，但是由于儀器從室溫放到測(cè)試的高溫環(huán)境下，儀器本身有一個(gè)溫度升高的過程，所以在高溫的情況下，一般都能正常工作一段時(shí)間。
一、儀器在不同的高溫情況下測(cè)試?
1.在100度的開水中測(cè)試
將儀器用密封袋包裝好，放入100度的沸水中做測(cè)試。在這種條件下，儀器能夠長時(shí)間工作，不影響測(cè)量。100度的高溫下，液晶顯示器會(huì)變黑一些，在室溫下能恢復(fù)正常。?
儀器初始溫度（環(huán)境溫度）：25度
儀器測(cè)試溫度：100度
測(cè)試時(shí)間： 2小時(shí)?
測(cè)試結(jié)果：儀器長時(shí)間在測(cè)試溫度下工作，能正常使用?
2. 林上紫外能量計(jì)從室溫27度的條件下，放入120度的高溫箱中，測(cè)試20分鐘
儀器初始溫度（環(huán)境溫度）：27攝氏度
儀器測(cè)試溫度：120攝氏度
測(cè)試時(shí)間：20分鐘
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測(cè)試結(jié)果：
A. 開始液晶花屏，溫度降下來能量計(jì)可以恢復(fù)正常；
B. 測(cè)試數(shù)據(jù)及功能都OK； 儀器本身的溫度上升曲線圖如下圖所示，儀器溫度從室溫開始逐漸上升到105度左右。?
備注：橫坐標(biāo)表示時(shí)間，縱坐標(biāo)表示溫度，從曲線圖中可看出儀器從27度的條件下，放入120度環(huán)境中，需要20分鐘，儀器的溫度才到達(dá)105度。
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3. 林上紫外能量計(jì)從室溫27度的條件下，放入150度的高溫箱中，測(cè)試20分鐘
儀器初始溫度（環(huán)境溫度）：27攝氏度
儀器測(cè)試溫度：150攝氏度
測(cè)試時(shí)間：20分鐘?
-
測(cè)試結(jié)果：
A. 液晶花屏，溫度降下來可以恢復(fù)正常
B. 測(cè)試數(shù)據(jù)及功能都OK； 儀器本身的溫度上升曲線圖如下圖所示，儀器溫度從室溫開始逐漸上升到125度。（儀器能測(cè)試的最高溫度是125度，所以到125度后是平行線，實(shí)際溫度會(huì)更高）
備注：橫坐標(biāo)表示時(shí)間，縱坐標(biāo)表示溫度，從曲線圖可以看出儀器從27度的條件下，放入150度環(huán)境中，需要15分鐘才能使儀器本身的溫度才到達(dá)125度。
4. 林上紫外能量計(jì)從室溫27度的條件下，放入150度的高溫箱中，測(cè)試30分鐘
儀器初始溫度（環(huán)境溫度）：27攝氏度
儀器測(cè)試溫度：150攝氏度
測(cè)試時(shí)間：30分鐘
測(cè)試結(jié)果：
A.液晶花屏，溫度降下來只有液晶邊緣有一點(diǎn)發(fā)黃；
B.測(cè)試過程中，有的儀器液晶損壞，功能不能恢復(fù)；
C.能夠恢復(fù)的儀器，測(cè)試數(shù)據(jù)及功能都OK；
儀器本身的溫度上升曲線圖如下圖所示，儀器溫度從室溫開始逐漸上升到125度（儀器能測(cè)試的最高溫度是125度，所以到125度后是平行線，實(shí)際溫度會(huì)更高）
備注：橫坐標(biāo)表示時(shí)間，縱坐標(biāo)表示溫度，從曲線圖可以看出儀器從27度的條件下，放入150度環(huán)境中，需要15分鐘，儀器的溫度才到達(dá)125度。
二、關(guān)于林上紫外能計(jì)在高溫下測(cè)試實(shí)驗(yàn)總結(jié)：
紫外能量計(jì)從室溫下放入高溫測(cè)試環(huán)境中，儀器在高溫的環(huán)境中，本身溫度的上升需要一個(gè)過程，所以都能短時(shí)間承受高溫。如150度的測(cè)試環(huán)境，儀器從27度的條件下放入，15分鐘才能達(dá)到125度。
不同的測(cè)試溫度，不同的儀器初始溫度，儀器所能工作的時(shí)間都是不同的。
不同的儀器初始溫度和測(cè)試溫度，具體的工作時(shí)間請(qǐng)參考以上的溫度曲線估算。
三、儀器在高溫下測(cè)試的注意事項(xiàng)：
紫外能量計(jì)在高溫下不能連續(xù)測(cè)試，因?yàn)閮x器的溫度還沒有降下來。初始溫度越低，能承受的測(cè)試時(shí)間越長。
電子元器件和液晶本身工作溫度的限制，一般工業(yè)級(jí)芯片的耐溫都是85度。 儀器的器件選擇都是耐高溫的器件，但不建議長時(shí)間超過85度使用。特別是超過100度的情況下，長時(shí)間測(cè)試會(huì)損壞儀器。
上面的測(cè)試溫度，120度，150度，都是超高溫的使用，林上公司只是用幾臺(tái)樣機(jī)做了以上的測(cè)試，150度情況下30分鐘時(shí)就有儀器損壞，所以不承諾每臺(tái)儀器都能通過以上的測(cè)試，也不承諾在這種測(cè)試條件下，儀器不損壞或使用壽命不受影響。