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如何用鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度?

來(lái)源:林上 發(fā)布時(shí)間:2020/04/14 09:32:00 瀏覽次數(shù):6049

鍍層厚度測(cè)量是電鍍工藝質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié),也是電鍍產(chǎn)品質(zhì)量達(dá)標(biāo)的重要保障。為了控制鍍層厚度,需要用到各種測(cè)量方法,其中常見(jiàn)的就是使用磁性法和渦流法鍍層測(cè)厚儀對(duì)鍍層厚度進(jìn)行無(wú)損測(cè)量。

一、多種測(cè)量鍍層厚度的方式

1. 磁感應(yīng)法測(cè)量鍍層厚度

利用測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁的覆層而流入鐵磁性金屬基體的磁通量的大小來(lái)確定鍍層的厚度。適合測(cè)量鋼鐵等鐵磁性金屬基體上的非磁性金屬鍍層,如涂料、清漆、搪瓷、塑料、橡膠覆層,鍍鉻、鍍鋅、鍍鎘、鍍銅層等有色金屬電鍍層以及各種防腐涂層。

2. 電渦流測(cè)厚法鍍層測(cè)厚儀

通過(guò)高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體越近,則渦流愈大,反射阻抗能力越大。這個(gè)反饋?zhàn)饔帽碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。

3. 其他鍍層厚度測(cè)量方式

除了上述的磁性和渦流測(cè)厚法,還有楔切法,光學(xué)法(如輪廓尺寸測(cè)量法,雙光束顯微鏡法),電解法(如陽(yáng)極溶解庫(kù)倫法)、金相法、化學(xué)法(點(diǎn)滴法,溶解稱重法,計(jì)時(shí)液流法),機(jī)械法(如稱重法,厚度差測(cè)量法),X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法等多種鍍層厚度測(cè)量方式。其中電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。X射線和β射線法也屬于無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,測(cè)量范圍較小,X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。

二、LS225測(cè)量鍍層厚度

在上述的多種鍍層測(cè)厚方式中,林上科技新推出的LS225鍍層測(cè)厚儀采用的就是磁感應(yīng)測(cè)厚法,我們以這款儀器為例,詳細(xì)介紹一下如何用儀器測(cè)量鍍層厚度。


LS225的測(cè)量參數(shù)

  1. 測(cè)量原理:磁感應(yīng)測(cè)厚法

  2. 適合的基體:鐵磁性金屬,如鋼,鐵等

  3. 測(cè)量范圍:0-500μm

  4. 分辨率:0.1μm:(0μm-99.9μm);1μm:(100μm-500μm)

LS225的特點(diǎn)

1.具有超小測(cè)頭,特別適合于釘子、螺栓等小工件上的薄鍍層以及各種凹面和凸面。

2.支持1-5點(diǎn)校準(zhǔn),測(cè)量更準(zhǔn)。

3.具有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能,自動(dòng)統(tǒng)計(jì)就近測(cè)量的9個(gè)測(cè)量值的最大、最小、平均和方差值。

4.用戶可以選配專用測(cè)試夾具,不但使測(cè)量更方便,還可消除人為因素帶來(lái)的測(cè)量誤差。

5.采用數(shù)字?jǐn)?shù)字震蕩技術(shù)和數(shù)字探頭技術(shù),測(cè)量數(shù)據(jù)具有超高精度和穩(wěn)定性。

LS225的操作步驟

1.多點(diǎn)校準(zhǔn):LS225鍍層測(cè)厚儀出廠默認(rèn)標(biāo)配了7片標(biāo)準(zhǔn)片,用戶可以根據(jù)自己的需要進(jìn)行1至5個(gè)點(diǎn)的校準(zhǔn)。

2.零點(diǎn)檢查:校準(zhǔn)完畢之后,儀器會(huì)提示您進(jìn)行零點(diǎn)檢查,以確保測(cè)量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)。請(qǐng)使用未噴涂標(biāo)準(zhǔn)工件或者配備的調(diào)零板進(jìn)行調(diào)零。

3.開(kāi)始測(cè)量:將探頭垂直按壓在被測(cè)材料表面,在儀器主機(jī)上即刻顯示測(cè)量結(jié)果。儀器測(cè)量時(shí)可以保存9組測(cè)試數(shù)據(jù),并在屏幕上顯示出9個(gè)數(shù)據(jù)的最大值,最小值,平均值以及方差值。

鍍層測(cè)厚儀